和林微纳:Chiplet浪潮来袭,关注国产测试探针龙头 - 短线宝

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Chiplet将进一步提升晶圆测试需求半导体芯片测试分为晶圆测试(WAT/CP)和终测(FT)两个环节。关注国产测试探针龙头MEMS精密零部件和FT测试探针龙头。主要产品包括MEMS精微电子零部件系列产品、半导体FT芯片测试探针等。这进一步增加了对于CP测试探针的需求。定增布局MEMS工艺CP测试探针。Chiplet浪潮来袭半导体制程逼近物理极限。Chiplet采用多个小芯片合封。前瞻布局CP和基板测试探针。公司在FT测试探针领域身位突出。投资建设MEMS工艺晶圆测试探针研发量产项目、基板级晶圆测试探针研发量产项目。收入增长稳健和林微纳是专注于微型精密制造的国家高新技术企业。国产测试探针龙头扬帆起航2021年11月20日公司发布公告。半导体FT测试探针更得到全球GPU龙头英伟达认可。芯片良率也难以得到保障。提升了芯片良率、降低了制造成本。


【财通电子】和林微纳:Chiplet浪潮来袭,关注国产测试探针龙头

MEMS精密零部件和FT测试探针龙头,收入增长稳健

和林微纳是专注于微型精密制造的国家高新技术企业。主要产品包括MEMS精微电子零部件系列产品、半导体FT芯片测试探针等。公司MEMS产品下游客户包括ADI、楼氏、英飞凌等国际知名企业,成长稳健。半导体FT测试探针更得到全球GPU龙头英伟达认可,近期亦导入多家国内外核心客户,收入快速增长。

制程接近物理极限,Chiplet浪潮来袭

半导体制程逼近物理极限,进一步突破需要高昂的设备投入,芯片良率也难以得到保障。Chiplet采用多个小芯片合封,在相同制程下提升了系统集成度,提升了芯片良率、降低了制造成本。目前,AMD、Intel、Nvidia等国际龙头企业纷纷布局Chiplet,Chiplet或将成为未来高算力芯片的主要形式。

Chiplet将进一步提升晶圆测试需求

半导体芯片测试分为晶圆测试(WAT/CP)和终测(FT)两个环节。在晶圆测试环节,对于功能相对简单的芯片(如模拟芯片),为了提升测试效率往往采用抽样测试方式。而对于Chiplet,为了保障每一个Die的可靠性,对于每一个芯片都需要采用全测的方式,这进一步增加了对于CP测试探针的需求。

定增布局MEMS工艺CP测试探针,国产测试探针龙头扬帆起航

2021年11月20日公司发布公告,拟向特定对象发行股票募集资金总额不超过7亿元,投资建设MEMS工艺晶圆测试探针研发量产项目、基板级晶圆测试探针研发量产项目。公司在FT测试探针领域身位突出,前瞻布局CP和基板测试探针,有望充分受益Chiplet行业需求的快速增长和国产替代需求。据我们测算,当前公司估值(加定增)对应23年仅约35×PE